X射線熒光光譜儀檢測分析原理

　　X射線熒光光譜分析儀可以對各種樣品的元素組成進(jìn)行定量分析，包括壓片、融珠、粉末液體、甚至是龐大的樣品。它使用一種高功率X射線管達(dá)到了檢測限低和測量時間短的效果。具有重現(xiàn)性好，測量速度快，靈敏度高的特點。

　　X射線熒光光譜分析儀物理原理

　　當(dāng)材料暴露在短波長X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會“回補”進(jìn)入低軌道，以下來的洞。在“回補”的過程會釋出多余的能源，光子能量是相等兩個軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。廣泛應(yīng)用于機械加工、鋼鐵貿(mào)易、船舶制造、工程公司、冶金等企業(yè)中。

　　X射線熒光光譜分析儀由激發(fā)系統(tǒng)、分光系統(tǒng)以及儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成，具有的高靈敏度與寬動態(tài)范圍的特性使其成為了同等級中性能高的微型光譜儀。其高的性能可以大大提高吸光度、反射率、熒光與拉曼檢測的度。

　　激發(fā)系統(tǒng)，主要部件為X射線管，可以發(fā)出原級X射線（一次X射線），用于照射樣品激發(fā)熒光X射線；

　　分光系統(tǒng)，對來自樣品待測元素發(fā)出的特征熒光X射線進(jìn)行分辨（主要為分光晶體）；探測系統(tǒng)，對樣品待測元素的特征熒光X射線進(jìn)行強度探測；

　　儀器控制和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，處理探測器信號，給出分析結(jié)果。