EDX測(cè)試系統(tǒng)使用指南：精準(zhǔn)解鎖元素分析

　　EDX測(cè)試系統(tǒng)，即能量色散X射線光譜儀，在材料成分分析領(lǐng)域應(yīng)用廣泛。掌握其正確使用方法，能助力科研、生產(chǎn)等獲取精準(zhǔn)元素信息。

　　使用前，準(zhǔn)備工作是關(guān)鍵。先確保測(cè)試環(huán)境符合要求，室內(nèi)溫度、濕度應(yīng)保持在設(shè)備適宜范圍，通常溫度控制在15℃-30℃，相對(duì)濕度低于70%，且工作臺(tái)需穩(wěn)固防震，避免外界干擾影響檢測(cè)精度。接著，檢查設(shè)備外觀，查看X射線管、探測(cè)器等部件連接是否正常，有無損壞跡象，同時(shí)保證儀器接地良好，防止電涌沖擊。還需準(zhǔn)備標(biāo)準(zhǔn)樣品，用于后續(xù)校準(zhǔn)，標(biāo)準(zhǔn)樣品元素組成與含量應(yīng)已知且準(zhǔn)確。
 

　　開機(jī)后，開啟水冷或油冷系統(tǒng)（若有），保障X射線管冷卻，延遲數(shù)分鐘再啟動(dòng)主機(jī)，讓各部件預(yù)熱穩(wěn)定。隨后進(jìn)入?yún)?shù)設(shè)置環(huán)節(jié)，依據(jù)待測(cè)樣品特性，設(shè)定合適的電壓、電流值，電壓決定X射線激發(fā)能量，電流影響信號(hào)強(qiáng)度，一般低原子序數(shù)元素檢測(cè)選較低電壓，高原子序數(shù)則適當(dāng)提高；設(shè)定時(shí)間，包括采集時(shí)間與死時(shí)間，采集時(shí)間過短數(shù)據(jù)不足，過長(zhǎng)易致計(jì)數(shù)堆積失真，死時(shí)間設(shè)置要平衡計(jì)數(shù)率與分辨率。

　　放置樣品時(shí)，將處理好的平整、光滑樣品置于樣品室要求位置，調(diào)整樣品臺(tái)使樣品表面與X射線垂直，確保探測(cè)面積入射角一致。對(duì)于塊狀樣品，可直接放置；粉末樣品需壓實(shí)、研磨后用樣品托固定，液體樣品則用特制容器盛放并密封，防止泄漏污染設(shè)備。

　　一切就緒，啟動(dòng)測(cè)試程序，X射線管發(fā)射X射線激發(fā)樣品，探測(cè)器捕捉熒光X射線并轉(zhuǎn)化為電信號(hào)，經(jīng)放大器、多道分析器處理成元素特征譜圖。測(cè)試中密切關(guān)注設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)，若遇異常如計(jì)數(shù)率突變、設(shè)備過熱報(bào)警等，立即停止測(cè)試排查故障。

　　測(cè)試結(jié)束后，先關(guān)斷X射線管高壓，待冷卻后關(guān)閉主機(jī)、冷卻系統(tǒng)及電腦，清理樣品室，妥善處理樣品，定期對(duì)設(shè)備清潔、校準(zhǔn)，檢查探測(cè)器能量分辨率、X射線管靶材磨損情況，以維持設(shè)備性能，為后續(xù)精準(zhǔn)分析保駕護(hù)航。